Belec de-tect 高精度便携式直读光谱仪

•较长的线缆设计，能提供任何长度（标准 3m 长）

•易于应用并可与管道架连接

•低氩气消耗量 → 低使用成本

•枪头连屏幕 → 更便捷读取分析数据

•坚固的枪头设计，含光学组件

•在枪头上进行所有分析，无需顾虑因光纤老化而导致光强降低的问题

•便于使用的用户界面

•简单完成后分析计算（添加/编辑或其它计算程序）

•集成、可定制牌号数据库

•方便标准化/类型分析

•恒温设计 → 适应任何使用环境

•高准确度和高精确度（包括 UV 元素、C、P、S 甚至微量元素）

•PMI/现场准备

•适用于几乎所有形状和尺寸的适配器

•重量轻、可媲美铝制航空材料强度的防潮塑料机壳

•几乎免维护操作

Belec Compact Port HLC 便携式直读光谱仪
•全部采用光电倍增管系统便携式光谱仪
•体积小、重量轻，仅17公斤
•可选3种不同火花探头
•可外接独特的火花测量台
•最多分析6个基体共36个元素信道，包括C、P、S、N等元素
•分析时间仅13秒左右
•触摸式显示屏，便于现场使用
•全天设计带恒温系统，抗干扰能力强
•低损耗及免维护的火花钨电极，日常维护及备件成本低
•采用光栅精度为3600线/mm
•也可选用CCD火花探头

Belec Vario Lab 2P/2C 固定式直读光谱仪
•同一设备可安装3个光谱室
•可分析最多11个基体共108个元素信道，包括C、P、S、N等元素
•可同时选择火花台及3种不同的火花探头--可在非破坏条件下分析大型工件分析
•时间仅15秒左右
•火花台内氩气流的防污染独特设计
•低损耗及免维护的火花钨电极，日常维护及备件成本低
•可测量从小至直径0.5毫米的线材到不计尺寸大型工件
•可选择带气体净化器的氩气光谱室系统或真空光谱室系统
•采用光栅精度为3600线/mm
•全部采用光电倍增管系统或CCD系统（可选），寿命长，稳定性高

Belec OPTRON 经济型台式光谱仪
•较高的性价比，占地空间小
•特别适合于少基体要求的客户
•可分析最多3个基体共24个元素信道，包括C、P、S、N等元素
•分析时间仅15秒左右
•火花台内氩气流的防污染独特设计
•低损耗及免维护的火花钨电极，日常维护及备件成本低
•可测量从直径0.5毫米的线材、管材等
•采用光栅精度为3600线/mm
•OPTRON为全部 CCD 系统

Belec IN-Spect 高精度式光谱仪
•采用蔡司制造的3600刻线/mm高精度光栅
•火花台内的透镜无需清洁（免维护）
•低损耗钨电极（不需要更换，也不需要重新打磨），一个电极可用于多种基体
•高品质CCD，能分析宽阔波长的成份含量
•成熟的CCD光谱室，对于所有基体具有稳定的检测结果，
　如：Fe、Ni、Cu、Al、Zn、Pb 等
•元素数量不限
•分析程序数量不限
•可分析如Li、Na、K、N等特殊元素
•采用具有多个参考元素信道的MCDC（多矩阵通道漂移校正）能长期保持稳定
•独特的曲面镜设计，聚焦光线能覆盖单个CCD整个表面
•双光谱分析仪
•不需要抽真空，也不需要进行光室的维护

Belec Win 21软件（可选多国语言，包括中文）
•可选多国语言，包括中文、英文、日文、韩文、德文、西班牙等十多种语言⋯
•可以显示分析结果和多次测量的平均值、相对标准偏差和绝对标准偏差等，以及与预先输
•入的材料数据库进行比较对分析结果作出评价。
•在显示分析结果的同时，可以自动显示材料牌号。
•Belec光谱仪操作十分简单，特别适合于缺乏光谱分析经验的人员使用。
•为满足中国用户的需求，Win21软件已可选择中文操作模式，而操作接口的显示排列方式
•更可以按照用户的要求重整，以达到方便用户使用的目的。

手提激发枪

氩气特殊探头 “Argon Special Probe”
可以同时分析P和S，与C元素不同，因这两个元素发射很短的波
长，不能用光纤光束传送，需在探头内安装一个细小的光谱室来
解决这问题，探头重量仅1kg，使用非常方便。
 

氩气标准探头 “Argon Standard Probe”
可进行高精度分析大部份元素，包括C碳，使用专用的光学方法可
以分析低至0.003%含量C元素，其分析精度达到了专用定碳仪的
分析精度。
 

空气探头 “Air Probe”
“混料分选”的常规应用，一次分析时间小于2秒。在一次分析后
显示出近似的分析结果和材料牌号，也可发出报警信号。
 

“5mm 孔直径”
针对工件面积细小的平面，能提供特殊的小直径适配器，直径仅
5mm，也可与标准的11mm进行快速替换。

适配器

适合于各种形状零件和试样的分析，如管材、棒材、直径小至0.5mm的金属丝、螺丝、金属小珠等⋯